FCP磁場控制(zhi)平(ping)臺磁測(ce)量系統

FCP磁場控制(zhi)平(ping)臺

產(chan)品概(gai)述：

FCP磁場控制(zhi)平(ping)臺是(shi)根(gen)據磁控(kong)原理設(she)計的(de)理(li)想(xiang)磁測(ce)量系統，磁場範(fan)圍超過(guo)3T，利(li)用(yong)TESTIK475高(gao)斯計穩(wen)定(ding)磁場控制(zhi)，適合各(ge)系(xi)列(lie)電磁鐵(tie)配(pei)置，連續(xu)可(ke)變(bian)的(de)電(dian)磁氣(qi)隙(xi)，實(shi)心的(de)和(he)光(guang)學(xue)入(ru)口(kou)極帽，線型(xing)雙(shuang)極，真實四(si)象(xiang)限電磁鐵(tie)電(dian)源。

控(kong)制特征：

TESTIK475型(xing)高斯(si)計努(nu)力保持(chi)確(que)切(qie)的(de)磁場密度(du)，用戶輸入(ru)的(de)控(kong)制(zhi)設(she)定點，用G、T、Oe、A/m來表示(shi)。為了這北京錦(jin)正茂(mao)的(de)電(dian)磁鐵(tie)磁場控制(zhi)平(ping)臺集成(cheng)了硬件和(he)控(kong)制部件(jian)來形(xing)成(cheng)壹個變(bian)化(hua)的(de)磁場平臺(tai)，可(ke)以被獨立的(de)被(bei)利(li)用(yong)或(huo)做(zuo)為(wei)用(yong)戶設(she)計的(de)測(ce)量系統的(de)壹個基礎。

※ 磁場控制(zhi)平(ping)臺包括(kuo)錦(jin)正茂(mao)公(gong)司(si)的(de)電(dian)磁鐵(tie)、雙(shuang)極電源(yuan)、具(ju)有控制(zhi)能(neng)力(li)的(de)DSP技(ji)術(shu)的(de)高(gao)斯(si)計、霍爾探(tan)頭(tou)及(ji)支(zhi)架(jia)等。 錦(jin)正茂(mao)提(ti)供(gong)的(de)磁場控制(zhi)平(ping)臺具(ju)有不(bu)同(tong)的(de)配(pei)制用來(lai)滿(man)足在(zai)磁場強度(du)、磁場均(jun)勻性(xing)、樣(yang)品(pin)尺寸(cun)、自定義(yi)測量要求(qiu)等基礎之(zhi)上(shang)的(de)用(yong)戶要(yao)求(qiu)。可(ke)以獨立的(de)形(xing)成(cheng)用(yong)戶所(suo)需要的(de)不(bu)同(tong)磁場強度(du)的(de)可(ke)變(bian)磁場。廣(guang)泛用(yong)於(yu)磁光(guang)測(ce)量系統、VSM測量系統、在(zai)線退(tui)火(huo)、霍爾效(xiao)應、磁化(hua)率(lv)測(ce)量、自旋磁共(gong)振(zhen)、B-H曲(qu)線測(ce)量和精準(zhun)的(de)傳(chuan)感(gan)器(qi)校(xiao)準(zhun)等(deng)領(ling)域(yu)。

475高斯(si)計從(cong)高(gao)斯(si)計霍爾探(tan)頭(tou)得到(dao)反饋來計算並調整(zheng)控(kong)制(zhi)（模擬）輸出(chu)。為了更(geng)大(da)程(cheng)度(du)實現控制(zhi)的(de)穩(wen)定(ding)性，475型(xing)高斯(si)計每33毫秒更(geng)新(xin)模擬輸出(chu)。結果是(shi)壹個內置的(de)PI 控(kong)制(zhi)器(qi)提(ti)供(gong)了峰(feng)值(zhi)-到(dao)-峰(feng)值(zhi)的(de)0.5 G*的(de)磁場穩(wen)定(ding)性。

※ 當(dang)設(she)定點速率(lv)激(ji)活(huo)的(de)時(shi)候(hou)，儀器會(hui)開始(shi)從(cong)當(dang)前(qian)磁場讀數(shu)加(jia)速而(er)不(bu)是(shi)當(dang)前(qian)設(she)定點，基於(yu)對P和(he)I的(de)設(she)定。另外，475高斯計能設(she)定速率(lv)來(lai)控制(zhi)設(she)定點，從(cong)當(dang)前(qian)磁場讀數(shu)到(dao)壹個新(xin)的(de)值(zhi)，使用壹個磁場中平(ping)滑(hua)線性(xing)變(bian)換(huan)而(er)不(bu)是(shi)瞬(shun)態(tai)特性的(de)PI控(kong)制(zhi)。

※ 開(kai)環磁場控制(zhi)也可(ke)能(neng)用(yong)手(shou)動(dong)輸出(chu)來使用475模擬輸出(chu)，這意味著(zhe)忽(hu)視了反饋並且(qie)模擬輸出(chu)停留在(zai)手動(dong)用(yong)戶調整(zheng)。這(zhe)個(ge)方(fang)法使磁體電(dian)源(yuan)操(cao)作(zuo)處(chu)於(yu)恒定(ding)電(dian)流模式。

※ 475也包含了用戶可(ke)設(she)定的(de)控(kong)制(zhi)斜(xie)率(lv)限制和(he)模擬輸出(chu)電壓限制。這(zhe)些(xie)軟件限制保證了磁體電(dian)源(yuan)如果磁場控制(zhi)系(xi)統遭到(dao)不(bu)合適的(de)調整(zheng)或(huo)開(kai)始(shi)擺(bai)動(dong)而(er)不(bu)會(hui)損壞(huai)。

標(biao)準(zhun)配(pei)置：

TESTIK475有1個計算機(ji)接口(kou)：RS-232串口(kou):。這個(ge)接口(kou)可(ke)以設(she)置所有儀器參(can)數(shu)和測(ce)量值(zhi)得讀(du)回(hui)。在(zai)磁場控制(zhi)期間，接口(kou)的(de)讀(du)數(shu)率(lv)是(shi)額(e)定(ding)每(mei)秒30個讀數。475的(de)LabVIEW驅(qu)動是(shi)提(ti)供(gong)的(de)（選(xuan)配(pei)）。磁場控制(zhi)平(ping)臺不(bu)含應(ying)用軟件。

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