實(shi)驗(yan)室磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺

                             磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺

產品概(gai)述(shu)：

磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺是(shi)根據(ju)磁控(kong)原理設計(ji)的(de)理想磁測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)，磁場(chang)範(fan)圍超(chao)過(guo)3T，利(li)用(yong)TESTIK475高(gao)斯(si)計(ji)穩(wen)定(ding)磁場(chang)控(kong)制，適(shi)合(he)各系(xi)列電磁鐵配置(zhi)，連(lian)續(xu)可變的(de)電磁氣(qi)隙(xi)，實心的(de)和光學(xue)入(ru)口極帽，線型雙極(ji)，真(zhen)實四象限(xian)電磁鐵電源(yuan)。

您也(ye)可以(yi)在(zai)淘(tao)寶(bao)網(wang)首(shou)頁(ye)搜索(suo)“錦(jin)正(zheng)茂(mao)科技”，就(jiu)能(neng)看(kan)到我(wo)們的(de)企業店(dian)鋪，聯系(xi)更(geng)加(jia)方便(bian)快速！

控(kong)制特(te)征(zheng)：

TESTIK475型高斯計(ji)努力保(bao)持(chi)確切(qie)的(de)磁場(chang)密(mi)度，用(yong)戶輸入(ru)的(de)控(kong)制設(she)定點(dian)，用G、T、Oe、A/m來表(biao)示。為了這(zhe)北(bei)京錦(jin)正(zheng)茂(mao)的(de)電磁鐵磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺集(ji)成了硬件和(he)控(kong)制部件來(lai)形(xing)成壹個(ge)變化(hua)的(de)磁場(chang)平(ping)臺，可以(yi)被(bei)獨立(li)的(de)被(bei)利用(yong)或做為用戶設計(ji)的(de)測量(liang)系(xi)統(tong)的(de)壹個(ge)基(ji)礎(chu)。

※ 磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺包括錦(jin)正(zheng)茂(mao)公司的(de)電磁鐵、雙極(ji)電源(yuan)、具(ju)有(you)控(kong)制能(neng)力的(de)DSP技術(shu)的(de)高斯(si)計(ji)、霍(huo)爾探(tan)頭及支(zhi)架等(deng)。 錦(jin)正(zheng)茂(mao)提供的(de)磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺具(ju)有(you)不同(tong)的(de)配制(zhi)用來(lai)滿(man)足在(zai)磁場(chang)強(qiang)度、磁場(chang)均(jun)勻性(xing)、樣(yang)品尺(chi)寸(cun)、自(zi)定(ding)義(yi)測(ce)量要(yao)求(qiu)等(deng)基(ji)礎(chu)之(zhi)上的(de)用戶要求(qiu)。可以(yi)獨(du)立的(de)形(xing)成用戶所需要的(de)不同(tong)磁場(chang)強(qiang)度的(de)可變磁場(chang)。廣泛用於磁光測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)、VSM測量(liang)系(xi)統(tong)、在線(xian)退火(huo)、霍(huo)爾效(xiao)應(ying)、磁化(hua)率(lv)測量(liang)、自(zi)旋(xuan)磁共(gong)振(zhen)、B-H曲線(xian)測(ce)量(liang)和(he)精準(zhun)的(de)傳(chuan)感(gan)器校(xiao)準(zhun)等(deng)領(ling)域。

樣(yang)做(zuo)，475高(gao)斯(si)計(ji)從(cong)高(gao)斯(si)計(ji)霍(huo)爾探(tan)頭得到(dao)反饋來計(ji)算(suan)並調整(zheng)控(kong)制（模(mo)擬(ni)）輸出(chu)。為了更大(da)程度實(shi)現控(kong)制的(de)穩定(ding)性(xing)，475型高斯(si)計(ji)每(mei)33毫秒(miao)更新(xin)模(mo)擬(ni)輸出(chu)。結(jie)果(guo)是(shi)壹個(ge)內置(zhi)的(de)PI 控(kong)制器(qi)提供(gong)了峰值-到(dao)-峰(feng)值的(de)0.5 G*的(de)磁場(chang)穩(wen)定性(xing)。

※ 當(dang)設定(ding)點(dian)速率(lv)激活(huo)的(de)時候，儀器會開(kai)始(shi)從(cong)當(dang)前(qian)磁場(chang)讀(du)數加速而(er)不(bu)是(shi)當(dang)前(qian)設定點(dian)，基(ji)於對(dui)P和I的(de)設定(ding)。另(ling)外(wai)，475高(gao)斯(si)計(ji)能(neng)設定(ding)速率(lv)來(lai)控(kong)制設(she)定點(dian)，從當(dang)前(qian)磁場(chang)讀(du)數到壹個(ge)新(xin)的(de)值，使(shi)用(yong)壹個(ge)磁場(chang)中(zhong)平滑(hua)線(xian)性(xing)變換(huan)而不是(shi)瞬態特(te)性(xing)的(de)PI控(kong)制。

※ 開(kai)環磁場(chang)控(kong)制也(ye)可能(neng)用手動(dong)輸出(chu)來(lai)使(shi)用(yong)475模(mo)擬(ni)輸出(chu)，這(zhe)意(yi)味(wei)著(zhe)忽(hu)視(shi)了反(fan)饋並且(qie)模(mo)擬(ni)輸出(chu)停(ting)留(liu)在(zai)手動(dong)用戶調整(zheng)。這(zhe)個(ge)方法(fa)使(shi)磁體(ti)電源(yuan)操(cao)作(zuo)處(chu)於恒(heng)定電流(liu)模(mo)式。

※ 475也包含了(le)用戶可設(she)定(ding)的(de)控(kong)制斜(xie)率(lv)限(xian)制(zhi)和(he)模(mo)擬(ni)輸出(chu)電壓(ya)限(xian)制(zhi)。這(zhe)些(xie)軟件限(xian)制(zhi)保(bao)證(zheng)了磁體(ti)電源(yuan)如果(guo)磁場(chang)控(kong)制系(xi)統(tong)遭到不(bu)合(he)適(shi)的(de)調整(zheng)或開始(shi)擺動(dong)而不會(hui)損(sun)壞(huai)。

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標(biao)準配置(zhi)：

TESTIK475有(you)1個(ge)計(ji)算(suan)機(ji)接口：RS-232串(chuan)口:。這(zhe)個(ge)接口可以(yi)設(she)置(zhi)所(suo)有(you)儀器參數和測量值(zhi)得讀(du)回。在磁場(chang)控(kong)制期(qi)間，接(jie)口的(de)讀數率是(shi)額定(ding)每(mei)秒30個讀數。475的(de)LabVIEW驅動(dong)是(shi)提供(gong)的(de)（選配）。磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺不(bu)含(han)應(ying)用(yong)軟件。    

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