FCP磁場(chang)控(kong)制(zhi)平臺(tai)

FCP磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平臺(tai)

產品概(gai)述(shu)：

FCP磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平臺(tai)是根(gen)據(ju)磁(ci)控原理設(she)計的(de)理(li)想(xiang)磁(ci)測(ce)量系(xi)統，磁場(chang)範圍超(chao)過3T，利用TESTIK475高斯(si)計穩定(ding)磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)，適(shi)合(he)各系(xi)列電磁鐵配置，連(lian)續(xu)可變的電磁氣(qi)隙，實心的(de)和(he)光學(xue)入(ru)口(kou)極帽(mao)，線型(xing)雙極，真(zhen)實四象(xiang)限(xian)電磁鐵電源。

控(kong)制特(te)征(zheng)：

TESTIK475型(xing)高斯(si)計努力(li)保持確切的(de)磁(ci)場(chang)密(mi)度(du)，用戶(hu)輸(shu)入的(de)控制(zhi)設定(ding)點，用G、T、Oe、A/m來(lai)表(biao)示(shi)。為(wei)了這北京錦(jin)正(zheng)茂的電磁鐵磁場(chang)控(kong)制(zhi)平臺(tai)集成(cheng)了硬(ying)件和控制部(bu)件來(lai)形(xing)成(cheng)壹(yi)個(ge)變化(hua)的磁(ci)場(chang)平臺(tai)，可以被獨立的被利(li)用或做(zuo)為(wei)用戶(hu)設計(ji)的測(ce)量系(xi)統的壹(yi)個(ge)基(ji)礎(chu)。

※ 磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平臺(tai)包括(kuo)錦(jin)正(zheng)茂公司(si)的(de)電磁鐵、雙極電源、具(ju)有控制能力(li)的DSP技(ji)術(shu)的高斯(si)計、霍(huo)爾(er)探頭及支(zhi)架(jia)等(deng)。 錦(jin)正(zheng)茂提供(gong)的(de)磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平臺(tai)具(ju)有不(bu)同的配制(zhi)用來(lai)滿(man)足(zu)在(zai)磁場(chang)強度(du)、磁(ci)場(chang)均(jun)勻(yun)性(xing)、樣(yang)品尺(chi)寸、自定(ding)義(yi)測(ce)量要(yao)求等(deng)基(ji)礎(chu)之上(shang)的用戶(hu)要(yao)求。可以獨立的形成用戶(hu)所需要(yao)的不(bu)同磁場(chang)強度(du)的(de)可變磁場(chang)。廣(guang)泛用於磁(ci)光測(ce)量系(xi)統、VSM測(ce)量系(xi)統、在(zai)線退火(huo)、霍爾(er)效(xiao)應、磁(ci)化(hua)率測(ce)量、自旋磁共(gong)振(zhen)、B-H曲線測(ce)量和(he)精準的(de)傳(chuan)感器(qi)校準等領域(yu)。

樣(yang)做(zuo)，475高斯(si)計從(cong)高斯(si)計霍(huo)爾(er)探頭得(de)到(dao)反(fan)饋(kui)來(lai)計(ji)算(suan)並(bing)調(tiao)整(zheng)控(kong)制(zhi)（模擬(ni)）輸(shu)出。為(wei)了更大(da)程度實現控(kong)制(zhi)的穩定(ding)性(xing)，475型(xing)高斯(si)計每(mei)33毫秒更新模擬(ni)輸(shu)出。結果是壹(yi)個(ge)內(nei)置的(de)PI 控制(zhi)器(qi)提供(gong)了峰值-到(dao)-峰值的0.5 G*的磁(ci)場(chang)穩定(ding)性(xing)。

※ 當(dang)設定(ding)點速(su)率激(ji)活的(de)時(shi)候，儀器(qi)會(hui)開始(shi)從(cong)當(dang)前磁場(chang)讀數加速而(er)不(bu)是當(dang)前設定(ding)點，基(ji)於對(dui)P和I的(de)設定(ding)。另(ling)外(wai)，475高斯(si)計能設(she)定(ding)速(su)率來(lai)控(kong)制(zhi)設定(ding)點，從(cong)當(dang)前磁場(chang)讀數到(dao)壹(yi)個(ge)新的值，使用壹(yi)個(ge)磁場(chang)中(zhong)平滑(hua)線性變(bian)換而(er)不(bu)是瞬(shun)態(tai)特(te)性(xing)的(de)PI控制。

※ 開環(huan)磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)也(ye)可能用手(shou)動(dong)輸(shu)出來(lai)使(shi)用475模擬(ni)輸(shu)出，這(zhe)意(yi)味著忽視(shi)了反饋並且(qie)模擬(ni)輸(shu)出停(ting)留(liu)在(zai)手(shou)動(dong)用戶(hu)調(tiao)整(zheng)。這(zhe)個(ge)方(fang)法(fa)使(shi)磁體電源操作(zuo)處(chu)於(yu)恒定(ding)電流模式(shi)。

※ 475也包(bao)含(han)了用戶(hu)可設定(ding)的(de)控制斜(xie)率限(xian)制和模擬(ni)輸(shu)出電壓限(xian)制。這些(xie)軟(ruan)件限(xian)制保證了磁體電源如果磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)系(xi)統遭到(dao)不(bu)合(he)適的調(tiao)整(zheng)或(huo)開始(shi)擺(bai)動而(er)不(bu)會(hui)損壞。

標準配置：

TESTIK475有1個(ge)計算(suan)機(ji)接(jie)口(kou)：RS-232串(chuan)口(kou):。這個(ge)接(jie)口(kou)可以設置所有儀器(qi)參(can)數(shu)和(he)測(ce)量值得讀回。在(zai)磁場(chang)控(kong)制(zhi)期(qi)間(jian)，接(jie)口(kou)的讀數率是額(e)定(ding)每(mei)秒30個(ge)讀數。475的LabVIEW驅(qu)動(dong)是提供(gong)的(de)（選配(pei)）。磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平臺(tai)不(bu)含(han)應用軟(ruan)件。    

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