FCP磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)
產(chan)品(pin)概述：
FCP磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)是(shi)根據磁(ci)控原(yuan)理(li)設(she)計(ji)的(de)理(li)想(xiang)磁(ci)測量(liang)系統(tong)，磁(ci)場範圍超過3T，利(li)用TESTIK475高(gao)斯計(ji)穩(wen)定磁(ci)場控制(zhi)，適(shi)合(he)各系列電磁(ci)鐵(tie)配(pei)置，連(lian)續(xu)可變的電(dian)磁(ci)氣隙(xi)，實心(xin)的和(he)光(guang)學入(ru)口(kou)極(ji)帽，線型雙(shuang)極(ji)，真(zhen)實四象(xiang)限(xian)電磁(ci)鐵(tie)電(dian)源(yuan)。
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產(chan)品(pin)介紹：
控(kong)制(zhi)特(te)征(zheng)：
TESTIK475型(xing)高(gao)斯計(ji)努(nu)力保持確切的(de)磁(ci)場密度，用戶輸入的控制(zhi)設(she)定點(dian)，用G、T、Oe、A/m來(lai)表(biao)示。為了這(zhe)北京錦(jin)正茂(mao)的(de)電磁(ci)鐵(tie)磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)集(ji)成(cheng)了硬(ying)件和(he)控(kong)制(zhi)部(bu)件來形成(cheng)壹個變(bian)化的磁(ci)場平臺(tai)，可(ke)以(yi)被獨立(li)的(de)被利(li)用或做為用戶設(she)計(ji)的(de)測量(liang)系統(tong)的(de)壹個基(ji)礎。
※ 磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)包(bao)括錦(jin)正茂(mao)公(gong)司的(de)電磁(ci)鐵(tie)、雙(shuang)極(ji)電(dian)源(yuan)、具有(you)控(kong)制(zhi)能(neng)力的DSP技(ji)術(shu)的高(gao)斯計(ji)、霍爾探(tan)頭及支(zhi)架等。 錦(jin)正茂(mao)提(ti)供(gong)的磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)具(ju)有不同(tong)的配(pei)制(zhi)用來滿足在磁(ci)場強(qiang)度、磁(ci)場均勻(yun)性(xing)、樣(yang)品尺(chi)寸(cun)、自(zi)定義測量(liang)要求(qiu)等(deng)基(ji)礎之(zhi)上的用戶要求(qiu)。可(ke)以(yi)獨立(li)的形成(cheng)用戶所(suo)需(xu)要的(de)不(bu)同(tong)磁(ci)場強(qiang)度的可(ke)變(bian)磁(ci)場。廣(guang)泛用於磁(ci)光(guang)測量(liang)系統(tong)、VSM測量(liang)系統(tong)、在(zai)線退火(huo)、霍爾效(xiao)應(ying)、磁(ci)化率測量(liang)、自旋(xuan)磁(ci)共振(zhen)、B-H曲(qu)線測量(liang)和(he)精(jing)準的(de)傳感器(qi)校準等(deng)領域。
樣(yang)做，475高(gao)斯計(ji)從(cong)高(gao)斯計(ji)霍爾探(tan)頭得(de)到反饋(kui)來計(ji)算並調(tiao)整控(kong)制(zhi)（模(mo)擬(ni)）輸(shu)出。為了更大程(cheng)度實現控(kong)制(zhi)的(de)穩(wen)定性(xing)，475型(xing)高(gao)斯計(ji)每(mei)33毫秒(miao)更新模(mo)擬(ni)輸(shu)出。結果(guo)是(shi)壹個內(nei)置的PI 控(kong)制(zhi)器(qi)提(ti)供(gong)了峰值(zhi)-到(dao)-峰(feng)值(zhi)的(de)0.5 G*的(de)磁(ci)場穩(wen)定性(xing)。
※ 當(dang)設(she)定點(dian)速率(lv)激活的時候，儀器(qi)會開始(shi)從(cong)當前磁(ci)場讀數加速而(er)不(bu)是當(dang)前設(she)定點(dian)，基(ji)於對P和(he)I的(de)設(she)定。另外(wai)，475高(gao)斯計(ji)能(neng)設(she)定速率(lv)來(lai)控制(zhi)設(she)定點(dian)，從(cong)當前磁(ci)場讀數到壹個新(xin)的(de)值(zhi)，使用壹個磁(ci)場中平(ping)滑(hua)線性(xing)變換(huan)而(er)不(bu)是瞬態(tai)特(te)性(xing)的PI控(kong)制(zhi)。
※ 開環(huan)磁(ci)場控制(zhi)也(ye)可能(neng)用手動(dong)輸(shu)出來使用475模(mo)擬(ni)輸(shu)出，這(zhe)意味著(zhe)忽視(shi)了反饋並且(qie)模(mo)擬(ni)輸(shu)出停留(liu)在(zai)手動(dong)用戶調(tiao)整。這(zhe)個方(fang)法(fa)使磁(ci)體電(dian)源(yuan)操作(zuo)處(chu)於恒(heng)定(ding)電流(liu)模(mo)式。
※ 475也(ye)包含了用戶可設(she)定的(de)控制(zhi)斜(xie)率(lv)限制(zhi)和(he)模(mo)擬(ni)輸(shu)出電壓限(xian)制(zhi)。這(zhe)些軟件限制(zhi)保證(zheng)了磁(ci)體電(dian)源(yuan)如果(guo)磁(ci)場控制(zhi)系(xi)統(tong)遭(zao)到(dao)不合(he)適的調(tiao)整或(huo)開始(shi)擺(bai)動(dong)而(er)不(bu)會損壞(huai)。
標(biao)準配(pei)置：
TESTIK475有(you)1個計(ji)算機(ji)接口(kou)：RS-232串(chuan)口(kou):。這(zhe)個接(jie)口(kou)可以(yi)設(she)置所(suo)有(you)儀器(qi)參數和(he)測量(liang)值(zhi)得(de)讀回。在(zai)磁(ci)場控制(zhi)期(qi)間，接(jie)口(kou)的(de)讀數率是(shi)額定每(mei)秒(miao)30個讀數。475的(de)LabVIEW驅(qu)動(dong)是(shi)提(ti)供(gong)的（選(xuan)配(pei)）。磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)不(bu)含應(ying)用軟件。
TESTIK475型(xing)高(gao)斯計(ji)努(nu)力保持確切的(de)磁(ci)場密度，用戶輸入的控制(zhi)設(she)定點(dian)，用G、T、Oe、A/m來(lai)表(biao)示。為了這(zhe)北京錦(jin)正茂(mao)的(de)電磁(ci)鐵(tie)磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)集(ji)成(cheng)了硬(ying)件和(he)控(kong)制(zhi)部(bu)件來形成(cheng)壹個變(bian)化的磁(ci)場平臺(tai)，可(ke)以(yi)被獨立(li)的(de)被利(li)用或做為用戶設(she)計(ji)的(de)測量(liang)系統(tong)的(de)壹個基(ji)礎。
※ 磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)包(bao)括錦(jin)正茂(mao)公(gong)司的(de)電磁(ci)鐵(tie)、雙(shuang)極(ji)電(dian)源(yuan)、具有(you)控(kong)制(zhi)能(neng)力的DSP技(ji)術(shu)的高(gao)斯計(ji)、霍爾探(tan)頭及支(zhi)架等。 錦(jin)正茂(mao)提(ti)供(gong)的磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)具(ju)有不同(tong)的配(pei)制(zhi)用來滿足在磁(ci)場強(qiang)度、磁(ci)場均勻(yun)性(xing)、樣(yang)品尺(chi)寸(cun)、自(zi)定義測量(liang)要求(qiu)等(deng)基(ji)礎之(zhi)上的用戶要求(qiu)。可(ke)以(yi)獨立(li)的形成(cheng)用戶所(suo)需(xu)要的(de)不(bu)同(tong)磁(ci)場強(qiang)度的可(ke)變(bian)磁(ci)場。廣(guang)泛用於磁(ci)光(guang)測量(liang)系統(tong)、VSM測量(liang)系統(tong)、在(zai)線退火(huo)、霍爾效(xiao)應(ying)、磁(ci)化率測量(liang)、自旋(xuan)磁(ci)共振(zhen)、B-H曲(qu)線測量(liang)和(he)精(jing)準的(de)傳感器(qi)校準等(deng)領域。
樣(yang)做，475高(gao)斯計(ji)從(cong)高(gao)斯計(ji)霍爾探(tan)頭得(de)到反饋(kui)來計(ji)算並調(tiao)整控(kong)制(zhi)（模(mo)擬(ni)）輸(shu)出。為了更大程(cheng)度實現控(kong)制(zhi)的(de)穩(wen)定性(xing)，475型(xing)高(gao)斯計(ji)每(mei)33毫秒(miao)更新模(mo)擬(ni)輸(shu)出。結果(guo)是(shi)壹個內(nei)置的PI 控(kong)制(zhi)器(qi)提(ti)供(gong)了峰值(zhi)-到(dao)-峰(feng)值(zhi)的(de)0.5 G*的(de)磁(ci)場穩(wen)定性(xing)。
※ 當(dang)設(she)定點(dian)速率(lv)激活的時候，儀器(qi)會開始(shi)從(cong)當前磁(ci)場讀數加速而(er)不(bu)是當(dang)前設(she)定點(dian)，基(ji)於對P和(he)I的(de)設(she)定。另外(wai)，475高(gao)斯計(ji)能(neng)設(she)定速率(lv)來(lai)控制(zhi)設(she)定點(dian)，從(cong)當前磁(ci)場讀數到壹個新(xin)的(de)值(zhi)，使用壹個磁(ci)場中平(ping)滑(hua)線性(xing)變換(huan)而(er)不(bu)是瞬態(tai)特(te)性(xing)的PI控(kong)制(zhi)。
※ 開環(huan)磁(ci)場控制(zhi)也(ye)可能(neng)用手動(dong)輸(shu)出來使用475模(mo)擬(ni)輸(shu)出，這(zhe)意味著(zhe)忽視(shi)了反饋並且(qie)模(mo)擬(ni)輸(shu)出停留(liu)在(zai)手動(dong)用戶調(tiao)整。這(zhe)個方(fang)法(fa)使磁(ci)體電(dian)源(yuan)操作(zuo)處(chu)於恒(heng)定(ding)電流(liu)模(mo)式。
※ 475也(ye)包含了用戶可設(she)定的(de)控制(zhi)斜(xie)率(lv)限制(zhi)和(he)模(mo)擬(ni)輸(shu)出電壓限(xian)制(zhi)。這(zhe)些軟件限制(zhi)保證(zheng)了磁(ci)體電(dian)源(yuan)如果(guo)磁(ci)場控制(zhi)系(xi)統(tong)遭(zao)到(dao)不合(he)適的調(tiao)整或(huo)開始(shi)擺(bai)動(dong)而(er)不(bu)會損壞(huai)。
標(biao)準配(pei)置：
TESTIK475有(you)1個計(ji)算機(ji)接口(kou)：RS-232串(chuan)口(kou):。這(zhe)個接(jie)口(kou)可以(yi)設(she)置所(suo)有(you)儀器(qi)參數和(he)測量(liang)值(zhi)得(de)讀回。在(zai)磁(ci)場控制(zhi)期(qi)間，接(jie)口(kou)的(de)讀數率是(shi)額定每(mei)秒(miao)30個讀數。475的(de)LabVIEW驅(qu)動(dong)是(shi)提(ti)供(gong)的（選(xuan)配(pei)）。磁(ci)場控制(zhi)平(ping)臺(tai)不(bu)含應(ying)用軟件。
產(chan)品(pin)留(liu)言(yan)
