磁場(chang)控制平(ping)臺(tai)

FCP磁場(chang)控制平(ping)臺(tai)

產品概述(shu)：

FCP磁場(chang)控制平(ping)臺(tai)是根(gen)據磁控原(yuan)理設計(ji)的(de)理想磁測量系(xi)統(tong)，磁場(chang)範圍超過3T，利用(yong)TESTIK475高(gao)斯(si)計(ji)穩定磁場(chang)控制，適(shi)合(he)各系(xi)列(lie)電(dian)磁鐵(tie)配置(zhi)，連續(xu)可變的(de)電(dian)磁氣隙，實(shi)心(xin)的(de)和光(guang)學(xue)入口(kou)極帽，線(xian)型(xing)雙極，真(zhen)實(shi)四象限(xian)電(dian)磁鐵(tie)電(dian)源。

產(chan)品介紹：

北京(jing)錦(jin)正(zheng)茂(mao)的(de)電(dian)磁鐵(tie)磁場(chang)控制平(ping)臺(tai)集成了(le)硬(ying)件(jian)和控制部(bu)件來(lai)形成(cheng)壹個(ge)變化(hua)的(de)磁場(chang)平(ping)臺，可以(yi)被獨(du)立(li)的(de)被利用(yong)或做為用(yong)戶(hu)設(she)計(ji)的(de)測量系(xi)統(tong)的(de)壹個(ge)基(ji)礎。

※ 磁場(chang)控制平(ping)臺(tai)包(bao)括(kuo)錦(jin)正(zheng)茂(mao)公司(si)的(de)電(dian)磁鐵(tie)、雙極電(dian)源、具(ju)有(you)控制能力的(de)DSP技術(shu)的(de)高(gao)斯(si)計(ji)、霍(huo)爾探(tan)頭及(ji)支架(jia)等。 錦(jin)正(zheng)茂(mao)提供(gong)的(de)磁場(chang)控制平(ping)臺(tai)具有(you)不(bu)同的(de)配制用(yong)來滿足在(zai)磁場(chang)強度、磁場(chang)均勻(yun)性、樣品尺(chi)寸(cun)、自(zi)定義(yi)測量要求(qiu)等(deng)基(ji)礎之(zhi)上(shang)的(de)用(yong)戶(hu)要求(qiu)。可以(yi)獨(du)立(li)的(de)形成(cheng)用(yong)戶(hu)所需要的(de)不(bu)同磁場(chang)強度的(de)可變磁場(chang)。廣泛用(yong)於磁光(guang)測量系(xi)統(tong)、VSM測量系(xi)統(tong)、在(zai)線(xian)退(tui)火、霍爾效應、磁化(hua)率(lv)測量、自(zi)旋(xuan)磁共(gong)振(zhen)、B-H曲線(xian)測量和精(jing)準的(de)傳感(gan)器校(xiao)準等領域(yu)。

控制特征：

TESTIK475型(xing)高(gao)斯(si)計(ji)努(nu)力保(bao)持(chi)確(que)切的(de)磁場(chang)密(mi)度，用(yong)戶(hu)輸(shu)入(ru)的(de)控制設(she)定點(dian)，用(yong)G、T、Oe、A/m來表示。為了(le)這(zhe)樣做，475高(gao)斯(si)計(ji)從高(gao)斯(si)計(ji)霍(huo)爾探(tan)頭得到反饋(kui)來(lai)計(ji)算(suan)並調(tiao)整(zheng)控制（模擬(ni)）輸出(chu)。為了(le)更(geng)大(da)程(cheng)度(du)實(shi)現控制的(de)穩定性(xing)，475型(xing)高(gao)斯(si)計(ji)每(mei)33毫秒更(geng)新(xin)模擬(ni)輸出(chu)。結果是壹個(ge)內(nei)置(zhi)的(de)PI 控制器提供(gong)了(le)峰值(zhi)-到-峰值(zhi)的(de)0.5 G*的(de)磁場(chang)穩定性(xing)。

※ 當(dang)設定點(dian)速(su)率(lv)激(ji)活(huo)的(de)時候(hou)，儀(yi)器會開(kai)始從當前(qian)磁場(chang)讀(du)數加速而不(bu)是(shi)當前(qian)設(she)定點(dian)，基(ji)於對(dui)P和I的(de)設定。另外(wai)，475高(gao)斯(si)計(ji)能設(she)定速(su)率(lv)來(lai)控制設(she)定點(dian)，從當前(qian)磁場(chang)讀(du)數到壹個(ge)新(xin)的(de)值，使(shi)用(yong)壹個(ge)磁場(chang)中(zhong)平滑線(xian)性(xing)變換(huan)而不(bu)是(shi)瞬(shun)態特性的(de)PI控制。

※ 開(kai)環(huan)磁場(chang)控制也(ye)可能用(yong)手(shou)動輸出來(lai)使(shi)用(yong)475模擬(ni)輸出(chu)，這(zhe)意味著忽(hu)視了(le)反饋(kui)並且模擬(ni)輸出(chu)停(ting)留在(zai)手(shou)動用(yong)戶(hu)調(tiao)整(zheng)。這(zhe)個(ge)方(fang)法使(shi)磁體電(dian)源操(cao)作處於恒(heng)定電(dian)流(liu)模式。

※ 475也(ye)包(bao)含了(le)用(yong)戶(hu)可設(she)定的(de)控制斜(xie)率(lv)限(xian)制和模擬(ni)輸出(chu)電(dian)壓限(xian)制。這(zhe)些軟件限(xian)制保(bao)證(zheng)了(le)磁體電(dian)源如果(guo)磁場(chang)控制系(xi)統(tong)遭(zao)到不(bu)合(he)適(shi)的(de)調(tiao)整(zheng)或開(kai)始擺(bai)動(dong)而不(bu)會(hui)損壞(huai)。

標準配置(zhi)：

TESTIK475有(you)1個(ge)計(ji)算(suan)機接(jie)口(kou)：RS-232串口:。這(zhe)個(ge)接(jie)口(kou)可以(yi)設(she)置(zhi)所有(you)儀(yi)器參(can)數和測量值(zhi)得讀(du)回。在(zai)磁場(chang)控制期(qi)間，接(jie)口(kou)的(de)讀數(shu)率(lv)是(shi)額定每(mei)秒30個(ge)讀(du)數(shu)。475的(de)LabVIEW驅動(dong)是(shi)提供(gong)的(de)（選配）。磁場(chang)控制平(ping)臺(tai)不(bu)含(han)應用(yong)軟件。     

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