FCP磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平(ping)臺

FCP磁場(chang)控(kong)制(zhi)平(ping)臺

產品(pin)概述：

FCP磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平(ping)臺是(shi)根(gen)據(ju)磁(ci)控(kong)原理(li)設(she)計的理(li)想磁測(ce)量系統，磁(ci)場(chang)範圍超過(guo)3T，利用TESTIK475高斯(si)計穩定(ding)磁場(chang)控(kong)制(zhi)，適(shi)合各系列電(dian)磁鐵(tie)配置，連(lian)續(xu)可變(bian)的電(dian)磁氣(qi)隙，實心(xin)的和(he)光學(xue)入口極(ji)帽(mao)，線(xian)型雙(shuang)極(ji)，真實四(si)象(xiang)限電(dian)磁鐵(tie)電(dian)源。

控(kong)制特(te)征：

TESTIK475型高斯(si)計努力保持確切的磁(ci)場(chang)密(mi)度(du)，用(yong)戶(hu)輸入(ru)的控(kong)制設(she)定點(dian)，用G、T、Oe、A/m來表(biao)示(shi)。為了(le)這北(bei)京(jing)錦(jin)正(zheng)茂(mao)的電(dian)磁鐵(tie)磁場(chang)控(kong)制(zhi)平(ping)臺集(ji)成(cheng)了(le)硬件和(he)控制部(bu)件來形(xing)成(cheng)壹(yi)個變(bian)化(hua)的磁(ci)場(chang)平(ping)臺，可(ke)以(yi)被獨立的被(bei)利用(yong)或做(zuo)為(wei)用(yong)戶(hu)設計的測(ce)量系統的壹(yi)個基礎。

※ 磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平(ping)臺包括錦(jin)正(zheng)茂(mao)公(gong)司(si)的電(dian)磁鐵(tie)、雙(shuang)極(ji)電(dian)源、具(ju)有(you)控制能力(li)的DSP技(ji)術(shu)的高(gao)斯(si)計、霍爾探(tan)頭及支(zhi)架(jia)等(deng)。 錦(jin)正(zheng)茂(mao)提(ti)供的磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)平(ping)臺具(ju)有(you)不(bu)同(tong)的配制用(yong)來滿足(zu)在磁(ci)場(chang)強(qiang)度(du)、磁(ci)場(chang)均(jun)勻性(xing)、樣(yang)品(pin)尺寸、自(zi)定(ding)義(yi)測(ce)量要求(qiu)等(deng)基(ji)礎之(zhi)上的用(yong)戶(hu)要求(qiu)。可(ke)以(yi)獨立的形(xing)成(cheng)用戶(hu)所需要的不(bu)同(tong)磁(ci)場(chang)強(qiang)度(du)的可(ke)變(bian)磁(ci)場(chang)。廣(guang)泛用(yong)於(yu)磁(ci)光(guang)測(ce)量系統、VSM測(ce)量系統、在(zai)線(xian)退(tui)火(huo)、霍爾效(xiao)應、磁化(hua)率測(ce)量、自(zi)旋(xuan)磁(ci)共(gong)振、B-H曲線(xian)測(ce)量和精準的傳(chuan)感器校(xiao)準等(deng)領(ling)域(yu)。

樣做(zuo)，475高(gao)斯(si)計從高(gao)斯(si)計霍爾探(tan)頭得到(dao)反饋(kui)來計算並調(tiao)整(zheng)控制(zhi)（模擬(ni)）輸(shu)出(chu)。為了(le)更(geng)大(da)程度(du)實現(xian)控(kong)制的穩(wen)定性(xing)，475型高斯(si)計每33毫(hao)秒(miao)更(geng)新模(mo)擬(ni)輸(shu)出(chu)。結果是(shi)壹(yi)個內置(zhi)的PI 控(kong)制器提(ti)供了(le)峰(feng)值-到(dao)-峰(feng)值的0.5 G*的磁(ci)場(chang)穩(wen)定(ding)性(xing)。

※ 當設定點速(su)率激活(huo)的時候(hou)，儀(yi)器會開(kai)始(shi)從當前磁場(chang)讀(du)數加速(su)而(er)不(bu)是(shi)當前設定點，基於(yu)對(dui)P和(he)I的設(she)定。另(ling)外，475高斯(si)計能設(she)定(ding)速(su)率來控制(zhi)設定(ding)點(dian)，從(cong)當前磁場(chang)讀(du)數到(dao)壹(yi)個新的值(zhi)，使用(yong)壹(yi)個磁場(chang)中(zhong)平(ping)滑線(xian)性(xing)變(bian)換(huan)而(er)不(bu)是(shi)瞬(shun)態(tai)特(te)性的PI控(kong)制。

※ 開(kai)環(huan)磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)也(ye)可(ke)能用(yong)手(shou)動(dong)輸(shu)出來使用(yong)475模擬(ni)輸(shu)出(chu)，這意(yi)味著忽(hu)視了(le)反饋(kui)並(bing)且(qie)模(mo)擬(ni)輸(shu)出(chu)停(ting)留(liu)在手(shou)動(dong)用(yong)戶(hu)調(tiao)整(zheng)。這個方法使磁體電(dian)源操(cao)作處(chu)於(yu)恒(heng)定(ding)電(dian)流模(mo)式。

※ 475也(ye)包含了(le)用戶(hu)可設(she)定的控(kong)制斜(xie)率限制(zhi)和(he)模擬(ni)輸(shu)出(chu)電(dian)壓限制(zhi)。這(zhe)些軟件限制(zhi)保證(zheng)了(le)磁體電(dian)源如果磁(ci)場(chang)控(kong)制(zhi)系(xi)統遭(zao)到(dao)不(bu)合適(shi)的調(tiao)整(zheng)或開(kai)始(shi)擺動(dong)而(er)不(bu)會損壞。

標(biao)準配置：

TESTIK475有(you)1個計算機(ji)接口：RS-232串口:。這個接口可以(yi)設置(zhi)所有(you)儀(yi)器參(can)數和測(ce)量值得讀回(hui)。在(zai)磁場(chang)控(kong)制(zhi)期(qi)間，接口的讀(du)數率是(shi)額(e)定(ding)每(mei)秒(miao)30個讀數。475的LabVIEW驅動(dong)是(shi)提(ti)供的（選(xuan)配）。磁場(chang)控(kong)制(zhi)平(ping)臺不(bu)含應用軟件。

產品(pin)留(liu)言

標(biao)題(ti)

聯(lian)系(xi)人(ren)

聯(lian)系(xi)電(dian)話(hua)

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