錦(jin)正(zheng)茂高低(di)溫(wen)真(zhen)空探針臺(tai)可選(xuan)附(fu)件(jian)有(you)哪(na)些

錦(jin)正(zheng)茂高低(di)溫(wen)真(zhen)空探針臺(tai)可進(jin)行真空環境(jing)下(xia)的高低(di)溫(wen)測(ce)試（4.2K~500K），可升級加載(zai)磁場，低(di)溫(wen)防(fang)輻射(she)屏設計，樣品(pin)臺(tai)采用高純(chun)度(du)無(wu)氧銅(tong)制(zhi)作，溫(wen)度(du)均(jun)勻性(xing)更(geng)好(hao)，溫(wen)度(du)傳(chuan)感(gan)器(qi)采用有(you)著(zhe)良(liang)好(hao)穩(wen)定(ding)性(xing)和(he)重(zhong)復(fu)性的PT100或(huo)者(zhe)標定(ding)過(guo)的矽二極管作為測(ce)溫(wen)裝置(zhi)，支(zhi)持(chi)光(guang)纖(xian)光(guang)譜特性測(ce)試，兼容(rong)高倍(bei)率金(jin)相顯微鏡(jing)，可(ke)微調(tiao)移動(dong)，器件(jian)的(de)高頻特性(支(zhi)持(chi)頻(pin)率(lv)上(shang)達67GHz)，探針(zhen)熱(re)沈設計(ji)，LD/LED/PD的(de)光(guang)強/波(bo)長(chang)測試，自動(dong)流量(liang)控制(zhi)，材料(liao)/器(qi)件(jian)的(de)IV/CV特性測(ce)試等(deng)。

高低(di)溫(wen)真(zhen)空探針臺(tai)應用(yong)於高低(di)溫(wen)真(zhen)空環境(jing)下(xia)的芯片測試，材料(liao)測試，霍(huo)爾(er)測試，電(dian)磁(ci)輸(shu)運(yun)特性等(deng)。

可選(xuan)附(fu)件(jian)：

防(fang)震桌(zhuo)

多級壓(ya)縮(suo)制(zhi)冷機(ji)

機(ji)械(xie)泵/分(fen)子(zi)泵(beng)組/離子泵

射頻(pin)部件(jian)

各(ge)類型(xing)頻(pin)率(lv)真空接(jie)頭

各(ge)類DC探針、高(gao)頻(pin)探針、主(zhu)動(dong)式探(tan)針、電(dian)纜(lan)線(xian)等(deng)…

各(ge)類探針夾(jia)具(ju)

Chuck運動(dong)裝置(zhi)

電(dian)磁(ci)鐵系統/超導磁(ci)鐵系統

1Mpa正(zheng)壓系統

超高溫(wen)升級選(xuan)件(jian)

超高真(zhen)空升級選(xuan)件(jian)