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產(chan)品資(zi)料(liao)

霍(huo)爾(er)效(xiao)應測試系(xi)統

如果(guo)您(nin)對該(gai)產(chan)品感興趣的(de)話(hua),可以(yi)

產(chan)品名(ming)稱(cheng): 霍(huo)爾(er)效(xiao)應測試系(xi)統

產(chan)品型號(hao): 60B

產(chan)品展(zhan)商: 錦(jin)正茂(mao)儀器

產(chan)品文檔(dang): 無(wu)相關文檔(dang)

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用(yong)於(yu)測量半導體材料的載流(liu)子(zi)濃度(du)、遷移(yi)率(lv)、電(dian)阻率(lv)、霍(huo)爾(er)系(xi)數(shu)等(deng)重(zhong)要參(can)數，而(er)這些參(can)數是(shi)了(le)解(jie)半導體材料電(dian)學(xue)特(te)性(xing)必(bi)須預先(xian)掌(zhang)控(kong)的(de)，因(yin)此霍(huo)爾(er)效(xiao)應測試系(xi)統是(shi)理(li)解(jie)和研(yan)究半導體器件和半導體材料電(dian)學(xue)特(te)性(xing)必(bi)備的(de)工(gong)具(ju)。

霍(huo)爾(er)效(xiao)應測試系(xi)統 的(de)詳細介(jie)紹(shao)

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