霍爾(er)效(xiao)應測(ce)試系(xi)統-高低(di)溫磁場(chang)型

霍爾(er)效應(ying)測(ce)試系(xi)統-高低(di)溫磁場(chang)型

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產品(pin)名(ming)稱(cheng): 霍爾效應測(ce)試系(xi)統-高低(di)溫磁場(chang)型

產品(pin)型號(hao): JH60C

產品(pin)展商(shang): 錦正茂(mao)儀器

產品(pin)文(wen)檔(dang): 無相關(guan)文(wen)檔(dang)

簡(jian)單(dan)介(jie)紹

霍爾效(xiao)應(ying)測(ce)試系(xi)統-高低(di)溫磁場(chang)型可測(ce)試材(cai)料(liao): 半導體(ti)材料(liao)：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體(ti)材料(liao)等；低(di)阻抗(kang)材料(liao)：石(shi)墨(mo)烯、金屬(shu)、透明氧化(hua)物、弱(ruo)磁(ci)性半導體(ti)材料(liao)、TMR 材(cai)料(liao)等；高(gao)阻(zu)抗(kang)材料(liao)：半絕(jue)緣(yuan)的(de) GaAs, GaN, CdTe 等

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