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產(chan)品(pin)資料

霍(huo)爾效應測試系統低溫型儀器(qi)

如果(guo)您對(dui)該產(chan)品(pin)感興(xing)趣的(de)話,可(ke)以(yi)

產品(pin)名稱: 霍(huo)爾效應測試系統低溫型儀器(qi)

產(chan)品(pin)型號(hao): JH60D

產(chan)品(pin)展商: 錦(jin)正(zheng)茂(mao)儀器(qi)

產(chan)品(pin)文(wen)檔(dang): 無(wu)相(xiang)關(guan)文(wen)檔(dang)

簡單(dan)介(jie)紹

霍(huo)爾效應測試系統-低溫型可(ke)測試材料: 半導(dao)體材料(liao)：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和(he)鐵(tie)氧(yang)體材料(liao)等低阻抗材料(liao)：石墨(mo)烯(xi)、金(jin)屬(shu)、透明(ming)氧化(hua)物、弱(ruo)磁性(xing)半(ban)導體材料(liao)、TMR 材(cai)料等高(gao)阻抗材(cai)料(liao)：半絕(jue)緣的 GaAs, GaN, CdTe 等

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