探(tan)針臺廣泛應(ying)用於(yu)半(ban)導體(ti)、光(guang)電以及(ji)集成(cheng)電路(lu)等(deng)行(xing)業,用於(yu)測試(shi)、調試(shi)和維(wei)修電子設備(bei)、電路(lu)板和芯(xin)片。
探針臺具有(you)以下(xia)優勢(shi):
1.能夠確(que)保相(xiang)關(guan)產(chan)品(pin)研(yan)發(fa)的質(zhi)量。
2.能夠有效縮短研(yan)發(fa)時(shi)間和(he)資(zi)金(jin)成(cheng)本。
3.可以縮減(jian)器(qi)件(jian)的(de)制(zhi)作工(gong)藝成(cheng)本。
4.具有(you)更加(jia)可靠(kao)和省時(shi)省力(li)的(de)優勢,可以(yi)縮(suo)減(jian)器(qi)件(jian)的(de)制(zhi)作工(gong)藝成(cheng)本。
5.可以在(zai)真空(kong)條件(jian)下(xia)操(cao)作,提(ti)高了(le)測試(shi)的準確(que)度。
6.具有(you)高剛(gang)性的(de)矽(gui)片承載(zai)臺和高精度的(de)探(tan)針控(kong)制(zhi)系統(tong),有效提(ti)高了(le)測試(shi)精度。
7.可(ke)選(xuan)配接入光(guang)纖,可(ke)將(jiang)壹(yi)根或幾根(gen)電學探(tan)針替換為(wei)光(guang)纖,提(ti)高了(le)測試(shi)靈(ling)活(huo)性(xing)。
8.具有(you)優良的(de)直(zhi)流漏(lou)電控制(zhi)能力(li),確(que)保測試(shi)的安(an)*性。
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