FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標產品(pin)概(gai)述：
FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺是(shi)根據磁控(kong)原理設(she)計(ji)的理想磁測量(liang)系(xi)統，磁場(chang)範(fan)圍超過(guo)3T，利(li)用TESTIK475高斯計(ji)穩(wen)定(ding)磁場(chang)控(kong)制，適(shi)合(he)各系(xi)列電(dian)磁鐵(tie)配(pei)置(zhi)，連續可(ke)變(bian)的電(dian)磁氣隙(xi)，實(shi)心的和光學入(ru)口(kou)極帽(mao)，線型(xing)雙(shuang)極，真(zhen)實(shi)四(si)象(xiang)限(xian)電磁鐵(tie)電(dian)源(yuan)。
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標控制特(te)征：
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標TESTIK475型高斯計(ji)努力保持確切的磁場(chang)密(mi)度，用(yong)戶(hu)輸入(ru)的控(kong)制設(she)定(ding)點，用(yong)G、T、Oe、A/m來(lai)表示(shi)。為(wei)了(le)這北(bei)京(jing)錦正(zheng)茂的電(dian)磁鐵(tie)磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺集(ji)成了(le)硬件和控制部件來(lai)形成(cheng)壹個(ge)變(bian)化的磁場(chang)平(ping)臺，可(ke)以(yi)被(bei)獨(du)立(li)的被(bei)利(li)用或(huo)做(zuo)為用(yong)戶設(she)計(ji)的測量(liang)系(xi)統的壹個(ge)基礎(chu)。
※ 磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺包(bao)括錦正(zheng)茂公司的電(dian)磁鐵(tie)、雙(shuang)極電(dian)源(yuan)、具有(you)控制能(neng)力(li)的DSP技(ji)術(shu)的高斯計(ji)、霍爾探頭(tou)及(ji)支(zhi)架(jia)等。 錦正(zheng)茂提供的磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺具(ju)有(you)不同(tong)的配(pei)制用(yong)來(lai)滿(man)足(zu)在(zai)磁場(chang)強(qiang)度、磁場(chang)均勻性、樣品(pin)尺(chi)寸(cun)、自(zi)定(ding)義(yi)測量(liang)要(yao)求(qiu)等基礎(chu)之(zhi)上的用(yong)戶(hu)要(yao)求(qiu)。可(ke)以(yi)獨立的形(xing)成(cheng)用(yong)戶所(suo)需要(yao)的不(bu)同(tong)磁場(chang)強(qiang)度的可(ke)變(bian)磁場(chang)。廣泛用於磁光測量(liang)系(xi)統、VSM測量(liang)系(xi)統、在(zai)線退(tui)火(huo)、霍爾(er)效(xiao)應(ying)、磁化(hua)率(lv)測量(liang)、自(zi)旋(xuan)磁共(gong)振、B-H曲(qu)線(xian)測量(liang)和精準的傳(chuan)感(gan)器校準等領域(yu)。
樣做(zuo)，475高斯計(ji)從(cong)高斯計(ji)霍爾探頭(tou)得到(dao)反(fan)饋來(lai)計算(suan)並(bing)調(tiao)整(zheng)控制（模擬(ni)）輸出。為(wei)了(le)更(geng)大(da)程(cheng)度實(shi)現(xian)控制的穩(wen)定(ding)性，475型(xing)高斯計(ji)每33毫秒更(geng)新(xin)模擬(ni)輸出。結果(guo)是(shi)壹個(ge)內(nei)置(zhi)的PI 控(kong)制器提供了(le)峰值(zhi)-到(dao)-峰(feng)值(zhi)的0.5 G*的磁場(chang)穩(wen)定(ding)性。
※ 當(dang)設(she)定(ding)點速(su)率(lv)激(ji)活的時(shi)候(hou)，儀(yi)器會開始(shi)從(cong)當(dang)前磁場(chang)讀數(shu)加(jia)速(su)而(er)不(bu)是(shi)當(dang)前設(she)定(ding)點，基於對(dui)P和I的設(she)定(ding)。另(ling)外，475高斯計(ji)能設(she)定(ding)速(su)率來(lai)控制設(she)定(ding)點，從(cong)當(dang)前磁場(chang)讀數(shu)到(dao)壹個(ge)新(xin)的值(zhi)，使(shi)用(yong)壹個(ge)磁場(chang)中(zhong)平滑線性變(bian)換(huan)而(er)不(bu)是(shi)瞬(shun)態(tai)特(te)性的PI控(kong)制。
※ 開環磁場(chang)控(kong)制也(ye)可(ke)能用手(shou)動輸出來(lai)使用(yong)475模擬(ni)輸出，這(zhe)意味(wei)著忽視(shi)了(le)反(fan)饋並(bing)且(qie)模擬(ni)輸出停(ting)留在(zai)手(shou)動用戶(hu)調(tiao)整(zheng)。這個方(fang)法使(shi)磁體(ti)電(dian)源操作處(chu)於恒(heng)定(ding)電(dian)流模式(shi)。
※ 475也(ye)包(bao)含(han)了(le)用戶(hu)可(ke)設(she)定(ding)的控(kong)制斜率(lv)限(xian)制和模擬(ni)輸出電(dian)壓(ya)限(xian)制。這(zhe)些(xie)軟(ruan)件限(xian)制保證(zheng)了(le)磁體(ti)電(dian)源如(ru)果(guo)磁場(chang)控(kong)制系(xi)統遭到不合(he)適的調(tiao)整(zheng)或(huo)開始(shi)擺動而(er)不(bu)會損壞(huai)。
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標：
TESTIK475有(you)1個計(ji)算(suan)機接(jie)口(kou)：RS-232串口(kou):。這個(ge)接(jie)口(kou)可(ke)以(yi)設(she)置(zhi)所(suo)有(you)儀(yi)器參(can)數(shu)和測量(liang)值(zhi)得(de)讀回。在(zai)磁場(chang)控(kong)制期間，接(jie)口(kou)的讀數(shu)率(lv)是(shi)額定(ding)每(mei)秒30個讀數(shu)。475的LabVIEW驅(qu)動是(shi)提(ti)供(gong)的（選配）。磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺不(bu)含(han)應(ying)用軟(ruan)件。
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標產品(pin)概(gai)述：
FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺是(shi)根據磁控(kong)原理設(she)計(ji)的理想磁測量(liang)系(xi)統，磁場(chang)範(fan)圍超過(guo)3T，利(li)用TESTIK475高斯計(ji)穩(wen)定(ding)磁場(chang)控(kong)制，適(shi)合(he)各系(xi)列電(dian)磁鐵(tie)配(pei)置(zhi)，連續可(ke)變(bian)的電(dian)磁氣隙(xi)，實(shi)心的和光學入(ru)口(kou)極帽(mao)，線型(xing)雙(shuang)極，真(zhen)實(shi)四(si)象(xiang)限(xian)電磁鐵(tie)電(dian)源(yuan)。
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標控制特(te)征：
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標TESTIK475型高斯計(ji)努力保持確切的磁場(chang)密(mi)度，用(yong)戶(hu)輸入(ru)的控(kong)制設(she)定(ding)點，用(yong)G、T、Oe、A/m來(lai)表示(shi)。為(wei)了(le)這北(bei)京(jing)錦正(zheng)茂的電(dian)磁鐵(tie)磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺集(ji)成了(le)硬件和控制部件來(lai)形成(cheng)壹個(ge)變(bian)化的磁場(chang)平(ping)臺，可(ke)以(yi)被(bei)獨(du)立(li)的被(bei)利(li)用或(huo)做(zuo)為用(yong)戶設(she)計(ji)的測量(liang)系(xi)統的壹個(ge)基礎(chu)。
※ 磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺包(bao)括錦正(zheng)茂公司的電(dian)磁鐵(tie)、雙(shuang)極電(dian)源(yuan)、具有(you)控制能(neng)力(li)的DSP技(ji)術(shu)的高斯計(ji)、霍爾探頭(tou)及(ji)支(zhi)架(jia)等。 錦正(zheng)茂提供的磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺具(ju)有(you)不同(tong)的配(pei)制用(yong)來(lai)滿(man)足(zu)在(zai)磁場(chang)強(qiang)度、磁場(chang)均勻性、樣品(pin)尺(chi)寸(cun)、自(zi)定(ding)義(yi)測量(liang)要(yao)求(qiu)等基礎(chu)之(zhi)上的用(yong)戶(hu)要(yao)求(qiu)。可(ke)以(yi)獨立的形(xing)成(cheng)用(yong)戶所(suo)需要(yao)的不(bu)同(tong)磁場(chang)強(qiang)度的可(ke)變(bian)磁場(chang)。廣泛用於磁光測量(liang)系(xi)統、VSM測量(liang)系(xi)統、在(zai)線退(tui)火(huo)、霍爾(er)效(xiao)應(ying)、磁化(hua)率(lv)測量(liang)、自(zi)旋(xuan)磁共(gong)振、B-H曲(qu)線(xian)測量(liang)和精準的傳(chuan)感(gan)器校準等領域(yu)。
樣做(zuo)，475高斯計(ji)從(cong)高斯計(ji)霍爾探頭(tou)得到(dao)反(fan)饋來(lai)計算(suan)並(bing)調(tiao)整(zheng)控制（模擬(ni)）輸出。為(wei)了(le)更(geng)大(da)程(cheng)度實(shi)現(xian)控制的穩(wen)定(ding)性，475型(xing)高斯計(ji)每33毫秒更(geng)新(xin)模擬(ni)輸出。結果(guo)是(shi)壹個(ge)內(nei)置(zhi)的PI 控(kong)制器提供了(le)峰值(zhi)-到(dao)-峰(feng)值(zhi)的0.5 G*的磁場(chang)穩(wen)定(ding)性。
※ 當(dang)設(she)定(ding)點速(su)率(lv)激(ji)活的時(shi)候(hou)，儀(yi)器會開始(shi)從(cong)當(dang)前磁場(chang)讀數(shu)加(jia)速(su)而(er)不(bu)是(shi)當(dang)前設(she)定(ding)點，基於對(dui)P和I的設(she)定(ding)。另(ling)外，475高斯計(ji)能設(she)定(ding)速(su)率來(lai)控制設(she)定(ding)點，從(cong)當(dang)前磁場(chang)讀數(shu)到(dao)壹個(ge)新(xin)的值(zhi)，使(shi)用(yong)壹個(ge)磁場(chang)中(zhong)平滑線性變(bian)換(huan)而(er)不(bu)是(shi)瞬(shun)態(tai)特(te)性的PI控(kong)制。
※ 開環磁場(chang)控(kong)制也(ye)可(ke)能用手(shou)動輸出來(lai)使用(yong)475模擬(ni)輸出，這(zhe)意味(wei)著忽視(shi)了(le)反(fan)饋並(bing)且(qie)模擬(ni)輸出停(ting)留在(zai)手(shou)動用戶(hu)調(tiao)整(zheng)。這個方(fang)法使(shi)磁體(ti)電(dian)源操作處(chu)於恒(heng)定(ding)電(dian)流模式(shi)。
※ 475也(ye)包(bao)含(han)了(le)用戶(hu)可(ke)設(she)定(ding)的控(kong)制斜率(lv)限(xian)制和模擬(ni)輸出電(dian)壓(ya)限(xian)制。這(zhe)些(xie)軟(ruan)件限(xian)制保證(zheng)了(le)磁體(ti)電(dian)源如(ru)果(guo)磁場(chang)控(kong)制系(xi)統遭到不合(he)適的調(tiao)整(zheng)或(huo)開始(shi)擺動而(er)不(bu)會損壞(huai)。
錦正(zheng)茂FCP磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺技(ji)術(shu)指標：
TESTIK475有(you)1個計(ji)算(suan)機接(jie)口(kou)：RS-232串口(kou):。這個(ge)接(jie)口(kou)可(ke)以(yi)設(she)置(zhi)所(suo)有(you)儀(yi)器參(can)數(shu)和測量(liang)值(zhi)得(de)讀回。在(zai)磁場(chang)控(kong)制期間，接(jie)口(kou)的讀數(shu)率(lv)是(shi)額定(ding)每(mei)秒30個讀數(shu)。475的LabVIEW驅(qu)動是(shi)提(ti)供(gong)的（選配）。磁場(chang)控(kong)制平(ping)臺不(bu)含(han)應(ying)用軟(ruan)件。
