高(gao)斯(si)計(ji)的(de)選型(xing)首先應從(cong)測(ce)量對象(xiang)入(ru)手(shou),考(kao)慮以(yi)下(xia)幾個方(fang)面(mian):
a、磁(ci)場(chang)類(lei)型:磁場分(fen)為(wei)直(zhi)流磁(ci)場和交(jiao)流(liu)磁(ci)場(chang)兩(liang)種,永磁材(cai)料(liao)磁(ci)場強度(du)應(ying)選用(yong)直(zhi)流高(gao)斯(si)計(ji)測量;
b、儀器(qi)量程:明確被(bei)測對象的(de)大概磁場(chang)範圍(wei),選(xuan)擇(ze)儀器(qi)的(de)量程範(fan)圍(wei)應(ying)大(da)於(yu)被(bei)測量磁場(chang);
c、測(ce)量**度:指儀器(qi)的(de)分辨(bian)率,如(ru)分辨率是(shi) 1Gs 或(huo)者(zhe) 0.1Gs 等;
d、探頭(tou)選擇(ze):通(tong)常(chang)儀器(qi)生(sheng)產(chan)廠(chang)家的(de)測試(shi)探頭(tou)都(dou)有多(duo)種不(bu)同(tong)規(gui)格(ge),以(yi)滿(man)足各(ge)種不(bu)同(tong)測(ce)試(shi)要(yao)求(qiu),測(ce)量表(biao)面磁(ci)場(chang)強度(du)通(tong)常(chang)不(bu)需要(yao)考(kao)慮探頭(tou)規(gui)格(ge)。
①氣(qi)隙(xi)磁場測量:應訪(fang)考(kao)慮探頭(tou)的(de)尺寸(cun)大小,如(ru)探頭(tou)尺寸(cun)大於被(bei)測氣隙,則(ze)無(wu)法(fa)進(jin)入(ru)到(dao)被(bei)測的(de)氣隙(xi)中,從(cong)而(er)無(wu)法(fa)使用;
②(高(gao)斯(si)計(ji))探頭(tou)方(fang)向(xiang)選擇(ze):探頭(tou)方(fang)向(xiang)分橫(heng)向(xiang)和軸(zhou)向(xiang)兩種(zhong),用戶(hu)在探頭(tou)選擇(ze)時(shi)應(ying)根(gen)據(ju)被(bei)測對象考(kao)慮選擇(ze)適(shi)應的(de)探頭(tou);
③探頭(tou)連(lian)接(jie)線(xian):儀器(qi)生(sheng)產(chan)廠(chang)家探頭(tou)線纜的(de)長度通(tong)常(chang)是(shi)固(gu)定的(de),如(ru)有特殊測(ce)量要(yao)求(qiu),需延長或(huo)縮短(duan)探頭(tou)線時(shi),應向(xiang)廠家提(ti)出(chu)。
京(jing)公網(wang)安備(bei) 11010602006210號