沙(sha)特阿(e)蔔杜(du)拉(la)國王(wang)科技大學(xue)“定制(zhi)低(di)溫三維(wei)探(tan)針(zhen)臺(tai)”順(shun)利交(jiao)付(fu)

參(can)數(shu)概(gai)述：

可(ke)以(yi)進行(xing)真空(kong)環境中的高(gao)低(di)溫測(ce)試（10K~325K）。磁場(chang)強度在(zai)x軸(zhou)上(shang)為(wei)0.75T，在(zai)Y軸(zhou)上(shang)為(wei)0.75 T，在(zai)z軸(zhou)上(shang)為(wei)0.4T。

磁(ci)場(chang)均(jun)勻(yun)性：中心(xin)區(qu)域60mm球體(ti)內(nei)為(wei)1%。

三種高精(jing)度直流(liu)電(dian)源：穩定性(xing)±25ppm

磁場(chang)分(fen)辨(bian)率：0.05 MT

角度分(fen)辨(bian)率：0.02°

樣品(pin)固(gu)定方(fang)式(shi)：低(di)溫探(tan)頭(tou)

樣品(pin)臺(tai)直徑(jing)：20mm，可(ke)定制(zhi)

顯(xian)微鏡：10.Y平(ping)面(mian)2*2英寸(cun)，精(jing)度2μm，Z軸(zhou)行程(cheng)≥30.8mm，

放(fang)大倍數(shu)：16~100x/20~4000x

探(tan)針(zhen)臂(bi)數(shu)量：4個。可(ke)選(xuan)擇的

探(tan)針(zhen)臂(bi)行(xing)程(cheng)：12mm，可更(geng)換(huan)

探(tan)針(zhen)臂(bi)移動(dong)精度(du)：25μM可選(xuan)

探(tan)頭(tou)長(chang)度(du)：38mm

探(tan)頭(tou)直(zhi)徑(jing)：0.51mm

針(zhen)尖(jian)直徑(jing)：1μm

探(tan)頭(tou)材(cai)料(liao)：鎢/鈹銅/GGB

泄漏(lou)精度(du)：100fa低(di)溫防輻(fu)射(she)屏設計，樣品(pin)臺(tai)采用高純度無氧銅，溫度(du)均勻(yun)性較(jiao)好。

溫度(du)傳感(gan)器采用穩定性(xing)和重復(fu)性好的(de)矽二極(ji)管(guan)作為(wei)溫度(du)測(ce)量裝(zhuang)置(zhi)，支(zhi)持光纖光(guang)譜(pu)特性(xing)測(ce)試，與高倍(bei)率顯(xian)示(shi)鏡兼容，可(ke)以微調和移動(dong)，設備(bei)的(de)高頻(pin)特性(xing)（支持(chi)高達(da)40GHz的(de)頻率），探(tan)針(zhen)散(san)熱(re)器設計，LD/LED/PD光強/波長測(ce)試、自動流(liu)量(liang)控制、材料(liao)/器件的(de)IV/CV特性(xing)測(ce)試等。